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方源仪器总代理CMI243测厚仪膜厚仪免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。牛津仪器总代理深圳市方源仪器有限公司提供可靠的高品质产品，手持式类型易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买。
产品仪器探头:
方源仪器总代理CMI243测厚仪膜厚仪的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量铁质底材上金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镐。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
深圳方源仪器总代理CMI243测厚仪膜厚仪产品规格：
品牌：英国牛津仪器Oxford
产品型号：CMI243
检测范围：锌/铁、镍/铁、铬/铁、镉/铁、铜/铁等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc），包括紧固件、螺丝、汽车部件、齿轮、管件等表面电镀层。
测量镀层范围(周)：
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铁上镀层 |
镀层厚度范围 |
探头 |
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锌Zn |
0-1.5mi1 (38um) |
ECP-M(标配) |
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镉Cd |
0-1.5mi1 (38um) |
ECP-M(标配) |
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铬Cr |
0-1.5mi1 (38um) |
ECP-M(标配) |
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铜Cu |
0-0.40mi1 (10um) |
ECP-M(标配) |
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Non-Mag/Fe |
0-50mi1 (1270um) |
SMP-1（选购） |
中国代理商：深圳市方源仪器有限公司
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